اسکن interferometry نور سفید / کاربر تداخل سنج نوری - کاربر پسند

اسکن interferometry نور سفید / کاربر تداخل سنج نوری - کاربر پسند

خلاصه محصول:

White Interferometer همراه با میکروسکوپ و تداخل سنج ، با اندازه گیری سه بعدی از ارتفاع اسکن عمودی 400um ، برای طرح کلی و اندازه گیری مشخصات مواد مختلف و اجزای میکرو مناسب است. این ابزار نیازی به برنامه اصلاح شده توسط نور پیچیده ندارد. این ماده به طور گسترده ای در لنزهای شیشه ای ، سطح فیلم پوشش ، ویفر ، دیسک ، MEMS (سیستم میکرو الکترو مکانیکی) ، ال سی دی هواپیما ، تراکم بالا PCB ، بسته بندی IC ، تجزیه و تحلیل مواد ، تحقیقات سطح میکرو و غیره استفاده می شود.

امکانات:

1. اندازه گیری سه بعدی برای جسم نانو.
2. سرعت بالا و غیر تماسی.
3. تجزیه و تحلیل سطح ، مشخصات و زبری.
4- مواد شفاف یا غیر شفاف موجود است.
5. اندازه گیری امنیت پرتو غیر الکترونیکی و غیر لیزر.
6. نگهداری کم هزینه.

نرم افزار پردازش و تجزیه و تحلیل گرافیکی سه بعدی حرفه ای (Post Topo):
1. کاربر پسند رابط انسان و کامپیوتر.
2. خود کالیبراسیون برای فیلم استاندارد پیشرفته.
3. تجزیه و تحلیل خطی یا تجزیه و تحلیل منطقه ای هنگام تجزیه و تحلیل عمق و ارتفاع در دسترس است.
4- آنالیز خطی به صورت زبری و یا موج تعریف شده توسط ISO در دسترس است.
5. 17 مشخصات اندازه گیری و 4 داده اندازه گیری اضافی در دسترس است.
6. تجزیه و تحلیل منطقه ای در تجزیه و تحلیل گرافیکی یا تجزیه و تحلیل آماری موجود است.
7. ویژگی پردازش سریع فورد تبدیل 2 بعدی (FFT) مانند صاف کردن ، تیز کردن و موج تصفیه دیجیتال.
8- نتیجه تجزیه و تحلیل به چندین فایل گرافیکی مانند BMP یا نرم افزار تحلیل interferometer ImgScan در قالب Excel تبدیل می شود.

نرم افزار آنالیز تداخل با سرعت بالا و دقت بالا (ImgScan):

1. سخت افزار سیستم با نرم افزار پیش پردازش ImgScan پیکربندی شده است تا به طور خودکار حاشیه نور سفید را تجزیه و تحلیل کند.
2. ارتفاع عمودی تا 0.1 نانومتر است.
3. نرم افزار محاسبات و آنالیز سرعت بالا.
4- تنظیم دامنه اسکن عمودی آسان و ساده است.
5- لنزها در 10X ، 20X یا 50X در دسترس هستند.
6. نمایش عددی محور X ، Y و Z که باعث می شود شیء اندازه گیری سریعتر و راحت تر تشخیص داده شود.
7. روشنایی دستی / خودکار برای بدست آوردن بهترین مقایسه حاشیه نور سفید موجود است.
8. در حالت اندازه گیری اسکن دقیق PVSI یا حالت اندازه گیری اسکن با سرعت بالا موجود است.
9. نرم افزار تجزیه و تحلیل انحصاری برای اندازه گیری پروفایل سه بعدی شی نیمه شفاف مناسب است.
10. نقطه تعمیر خودکار.
11. جهت اسکن را می توان توسط کاربر تنظیم کرد.

مشخصات فنی: